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品牌: | 惠普 | HPHP4278A電容計Agilent4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 0.05%,0.0002(1MHz,21ms)Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。技術(shù)指標(biāo)：測量參數(shù)C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度C0.01pF~200.000μF0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pFD0.00001~9.999990.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 電纜長度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。  技術(shù)指標(biāo)：測量參數(shù)C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)測量時間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度 電纜長度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 一般技術(shù)指標(biāo)：工作溫度/濕度  5°~45℃，在40℃時相對濕度為95%  •4278A 1kHz/1MHz電容測試儀  Opt W30 擴大的維修服務(wù)  Opt 001 只1kHz測試頻率  Opt 002 只1MHz測試頻率  Opt 003 1%的頻率漂移；電源  100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V  Amax尺寸  約426mm(寬）*177mm(高）*498mm(長）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)重量：  約15kg(33磅，標(biāo)準(zhǔn)）